產品詳情
X射線熒光鍍層測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 和FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm X射線光譜儀，用于細小零部件上鍍層厚度的無損測量和成分分析
X射線熒光鍍層測厚儀X-RAY XULM系列簡介
為了使每次測量都能在*的條件下進行，XULM配備了可電動調整的多種準直器及基本濾片。
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。
本款儀器特別適合用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
典型的應用領域有：
微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量
印制線路板上手動測量
珠寶手表業中的鍍層厚度測量及成分分析
X-RAY XULM系列設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應不同樣品平臺：
XULM：固定平面平臺
XULM XYm：手動X/Y平臺
高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。
盡管儀器本身結構緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。
通過強大且界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。
XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量儀器。
X-RAY XULM系列通用規范
| 用途 | 能量色散X射線熒光光譜儀 （EDXRF） 用于測量鍍層厚度和材料分析 |
| 可測量元素范圍 | 從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可zui多同時測量24種元素 |
| 設計理念 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由下往上 |
X-RAY XULM系列X射線源
| X射線靶材 | 帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線管 |
| 高壓 | 三種可調高壓：30 kV，40 kV，50 kV |
| 孔徑（準直器） | 4個可切換準直器： 標準型（523-440）：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm 可選 （523-366）：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm 可選 （524-061）：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm 可按要求定制其它規格 |
| 基本濾片 | 3種可切換的基本濾片（標準型：鎳，無，鋁） |
| 測量點大小 | 取決于測量距離和使用的準直器的大小，視頻窗口中顯示的就是實際的測量點尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm準直器，zui小的測量點面積約為Ø 0.1 mm。 |
| 測量距離，如樣品為腔體時 | 使用保護的DCM（測量距離補償法）功能： 測量距離為0 ~ 20 mm時，為已校準范圍； 測量距離為20 ~ 27.5 mm，為非校準范圍。 |
X射線探測器
| X射線接收器 | 比例接收器 |
| 二次濾波器 | 可選：鈷濾波器或鎳濾波器 |
X-RAY XULM系列樣品定位
| 視頻顯微鏡 | 高分辨 CCD彩色攝像頭，可用來觀察測量位置十字線刻度和測量點大小經過校準 測量區域的LED照明亮度可調節 |
| 放大倍數 | 38 x ~184x （光學變焦: 38x ~ 46x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x） |
| 樣品臺 | XULM | XULM XYm |
| 設計 | 固定樣品平臺 | 手動XY平臺 |
| X/Y方向zui大可移動范圍 | - | 50 x 50 mm |
| 樣品放置可用區域 | 250 x 280mm | |
| 樣品zui大重量 | 2kg | |
| 樣品zui高高度 | 240mm | |
| 電氣參數 | |
| 電壓，頻率 | AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 功率 | zui大為 120 W （測量頭重量，不包括計算機） |
| 保護等級 | IP40 |
| 儀器規格 | |
| 外部尺寸 | 寬x深x高[mm]：395 x 580 x 510 |
| 重量 | 約45 kg |
| 內部測量艙尺寸 | 寬x深x高[mm]：360 x 380 x 240 |
| 環境要求 | |
| 測量時溫度 | 10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
| 存儲或運輸時溫度 | 0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
| 空氣相對濕度 | ≤ 95 %，無結露 |
| 計算系統 | |
| 計算機 | 帶擴展卡的Windows®個人計算機系統 |
| 軟件 | 標準配置：Fischer WinFTM® LIGHT |
| 可選配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER | |
| 執行標準 | |
| CE合格標準 | EN 61010 |
| X射線標準 | DIN ISO 3497和 ASTM B 568 |
| 型式許可 | 型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量儀器。 |
如有特殊要求，可與Fischer磋商，定制特殊的XULM型號。
X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應用于鍍層厚度測量，同時也適于進行元素分析。
可以對幾乎任意尺寸和狀態的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。
可以對幾乎任意尺寸和狀態的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。
FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀，它可以對未知材料進行簡單，快速而的分析。分析范圍從鋁（Al）到鈾（U），即使含量很小也可以測量。
X-RAY XULM系列這些*的儀器之所以具有如此強大的性能，是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。
如果與應用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領域快速、無損和測量金含量的理想設備。
X-RAY XULM系列這些*的儀器之所以具有如此強大的性能，是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。
如果與應用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領域快速、無損和測量金含量的理想設備。
更多X-RAY XULM系列以及其他款型相關請。
